Si Substrate

Gysga düşündiriş:

Iň ýokary takyklygy we ýokary arassalygy bilen, Semicera's Si Substrate, Epi-Wafer we Gallium Oxide (Ga2O3) önümçiligi ýaly möhüm programmalarda ygtybarly we yzygiderli öndürijiligi üpjün edýär. Öňdebaryjy mikroelektronikanyň önümçiligini goldamak üçin niýetlenen bu substrat ajaýyp utgaşyklygy we durnuklylygy hödürleýär we telekommunikasiýa, awtoulag we senagat pudaklarynda öňdebaryjy tehnologiýalar üçin möhüm material bolýar.


Önümiň jikme-jigi

Haryt bellikleri

“Semicera” tarapyndan öndürilen “Si Substrate” ýokary öndürijilikli ýarymgeçiriji enjamlaryň önümçiliginde möhüm elementdir. Highokary arassa kremniden (Si) öndürilen bu substrat ajaýyp birmeňzeşligi, durnuklylygy we ajaýyp geçirijiligi hödürleýär, ýarymgeçiriji pudagynda ösen amaly goşundylar üçin ideal edýär. “Si Wafer”, “SiC Substrate”, “SOI Wafer” ýa-da “SiN Substrate” önümçiliginde ulanylsa-da, “Semicera Si Substrate” häzirki zaman elektronika we material ylymlarynyň barha artýan isleglerini kanagatlandyrmak üçin yzygiderli hil we ýokary öndürijilik berýär.

Pokary arassalyk we takyklyk bilen deňsiz-taýsyz ýerine ýetiriş

“Semicera's Si Substrate” ýokary arassalygy we berk ölçegli gözegçiligi üpjün edýän ösen proseslerden peýdalanyp öndürilýär. Substrat, Epi-Wafers we AlN Wafers ýaly dürli ýokary öndürijilikli materiallary öndürmek üçin esas bolup hyzmat edýär. “Si Substrate” -niň takyklygy we birmeňzeşligi, indiki nesil ýarymgeçirijileriň önümçiliginde ulanylýan inçe filmli epitaksial gatlaklary we beýleki möhüm bölekleri döretmek üçin ajaýyp saýlawy edýär. Gallium Oksidi (Ga2O3) ýa-da beýleki ösen materiallar bilen işleýärsiňizmi, Semicera's Si Substrate iň ýokary ygtybarlylygy we öndürijiligi üpjün edýär.

Ondarymgeçiriji önümçiligindäki programmalar

Ondarymgeçiriji pudagynda, “Semicera” -dan “Si Substrate”, “Si Wafer” we “SiC Substrate” önümçiligi ýaly köp sanly programmada ulanylýar, bu ýerde işjeň gatlaklaryň ýerleşdirilmegi üçin durnukly, ygtybarly esas döredýär. Substrat ösen mikroelektronika we integral zynjyrlar üçin zerur bolan SOI wafli (Silikon On izolýator) ýasamakda möhüm rol oýnaýar. Mundan başga-da, “Si Substrates” -de gurlan “Epi-Wafers” (epitaksial wafli) güýç tranzistorlary, diodlar we integral zynjyrlar ýaly ýokary öndürijilikli ýarymgeçiriji enjamlary öndürmekde aýrylmazdyr.

Si Substrate, şeýle hem, elektrik elektronikasynda ýokary kuwwatly programmalar üçin ulanylýan geljegi uly giň zolakly material bolan Gallium Oksidi (Ga2O3) ulanyp, enjamlaryň öndürilmegini goldaýar. Mundan başga-da, “Semicera” -nyň “Si Substrate” -niň “AlN Wafers” we beýleki ösen substratlar bilen utgaşyklygy, ýokary tehnologiýaly pudaklaryň dürli talaplaryny kanagatlandyryp biljekdigini, telekommunikasiýa, awtoulag we senagat pudaklarynda öňdebaryjy enjamlary öndürmek üçin ideal çözgüt bolup biljekdigini üpjün edýär. .

Techokary tehnologiýaly programmalar üçin ygtybarly we yzygiderli hil

“Semicera” tarapyndan öndürilen “Si Substrate” ýarymgeçirijiniň ýasalyşynyň berk talaplaryny kanagatlandyrmak üçin seresaplylyk bilen işlenip düzüldi. Ajaýyp gurluş bitewiligi we ýokary hilli ýerüsti häsiýetleri ony wafli daşamak üçin kaseta ulgamlarynda ulanmak, şeýle hem ýarymgeçiriji enjamlarda ýokary takyklyk gatlaklaryny döretmek üçin iň amatly material edýär. Substratyň dürli proses şertlerinde yzygiderli hilini saklamak ukyby, iň soňky önümiň hasyllylygyny we öndürijiligini ýokarlandyryp, minimal kemçilikleri üpjün edýär.

Iň ýokary ýylylyk geçirijiligi, mehaniki güýji we ýokary arassalygy bilen, “Semicera's Si Substrate” ýarymgeçiriji önümçiliginde takyklygyň, ygtybarlylygyň we öndürijiligiň iň ýokary standartlaryna ýetmek isleýän öndürijiler üçin saýlama materialdyr.

Pokary arassalyk, ýokary öndürijilikli çözgütler üçin Semicera-nyň Si substratyny saýlaň

Ondarymgeçiriji pudagynda öndürijiler üçin “Semicera” -dan “Si Substrate”, “Si Wafer” önümçiliginden “Epi-Wafers” we “SOI Wafers” -iň döredilmegine çenli köp sanly programma üçin ygtybarly, ýokary hilli çözgüt hödürleýär. Deňi-taýy bolmadyk arassalygy, takyklygy we ygtybarlylygy bilen bu substrat uzak möhletli öndürijiligi we optimal netijeliligi üpjün edip, iň soňky ýarymgeçiriji enjamlary öndürmäge mümkinçilik berýär. Si substrat zerurlyklaryňyz üçin “Semicera” -ny saýlaň we ertirki tehnologiýalaryň talaplaryny kanagatlandyrmak üçin öndürilen önüme bil baglaň.

Harytlar

Önümçilik

Gözleg

Dummy

Kristal parametrler

Politip

4H

Faceerüsti ugrukdyryş säwligi

<11-20> 4 ± 0,15 °

Elektrik parametrleri

Dopant

n görnüşli azot

Çydamlylyk

0.015-0.025ohm · sm

Mehaniki parametrler

Diametri

150.0 ± 0,2mm

Galyňlyk

350 ± 25 μm

Esasy tekiz ugry

[1-100] ± 5 °

Esasy tekiz uzynlyk

47.5 ± 1,5mm

Ikinji kwartira

Hiç

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5mm * 5mm)

≤5 μm (5mm * 5mm)

≤10 μm (5mm * 5mm)

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Warp

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Öň (Si-face) gödeklik (AFM)

Ra≤0.2nm (5μm * 5μm)

Gurluşy

Mikrop turbanyň dykyzlygy

<1 ea / cm2

<10 ea / cm2

<15 ea / cm2

Metal hapalar

≤5E10atoms / cm2

NA

BPD

001500 ea / cm2

0003000 ea / cm2

NA

TSD

≤500 ea / cm2

0001000 ea / cm2

NA

Öň hili

Öň tarapy

Si

Faceerüsti gutarmak

Si-ýüzli CMP

Bölejikler

≤60ea / wafli (ölçegi≥0.3μm)

NA

Dyrnaklar

≤5ea / mm. Jemi uzynlygy ≤Diameter

Jemi uzynlygy≤2 * Diametri

NA

Pyrtykal gabygy / çukur / tegmiller / çişmeler / çatryklar / hapalanma

Hiç

NA

Gyrasy çipler / görkezijiler / döwük / alty sany plastinka

Hiç

Polip görnüşleri

Hiç

Jemi meýdany≤20%

Jemi meýdany ≤30%

Öňki lazer belligi

Hiç

Yzky hil

Yzyna

C ýüzli CMP

Dyrnaklar

≤5ea / mm, Jemi uzynlygy≤2 * Diametri

NA

Yzky kemçilikler (gyrasy çipler / görkezijiler)

Hiç

Yzky gödeklik

Ra≤0.2nm (5μm * 5μm)

Yzky lazer belligi

1 mm (ýokarky gyradan)

Gyrasy

Gyrasy

Çamfer

Gaplamak

Gaplamak

Wakuum gaplamak bilen epi taýýar

Köp wafli kaseta gaplamasy

* Bellikler NA "NA" haýyş ýok, agzalmadyk zatlar SEMI-STD-e degişli bolup bilmez.

tech_1_2_size
SiC wafli

  • Öňki:
  • Indiki: